| 項目 | 単位 | 仕様 | |
|---|---|---|---|
| タイプ | P型/N型 | ||
| 結晶成長法 | VGF | VGF | |
| ドーパント | Fe | S、Sn、Zn、無ドープ | |
| 直径 | inch | 2~4 | 2~4 |
| 面方位 | (100) ± 0.5° | (100) ± 0.5° | |
| オリフラ方位 | US、EJ | US、EJ | |
| 抵抗率 | Ω·cm | ≥0.5 × 107 | |
| キャリア濃度 | cm-3 | N/A | (0.8-8) × 1018/(1-10) × 1015/(0.8-8) × 1018 |
| 電子移動率(Mob) | cm2/v.s | ≥1000 | 1000~2500/3000~5000/50~100 |
| 転位密度(EPD) | cm2 | 1500~5000 | 100~5000/≥5000/≥500 |
| 厚さ | μm | (350~675) ± 25 | (350~675) ± 25 |
| TTV (P/P) | μm | ≤10 | ≤10 |
| TTV (P/E) | μm | ≤15 | ≤15 |
| Warp | μm | ≤15 | ≤15 |
| 面仕上げ | Sides 1 & 2 | ミラー/エッチング | |
| 梱包方法 | コインロール/カセットケース | コインロール/カセットケース | |
| 仕様 | サイズ | 2"、3"、4" | ||
|---|---|---|---|---|
| エピタキシャル材料 | InP、InAlAs、InGaAs | |||
| ドーピング | Si(N型)/ Be(P型) | |||
| 波長 | 通常波長:0.9 ~ 1.7 μm | 拡張波長:1.0 ~ 2.5 μm | ||
| エピタキシャル構造 | 平面型 | 層構成 | ドーピング濃度(cm3) | 厚み(nm) |
| n-InyAl1-yAs キャップ層 | 1-5×1016 | 500-1000 | ||
| i-InGaAs 吸収層 | uid | 1500-3000 | ||
| n+-InxAl1-xAs バッファ層 | 1-5×1018 | 1000-2000 | ||
| InP バッファ層 | 1-5×1018 | 200-1000 | ||
| InP 基板 | — | / | ||
| メサ型 | p-InyAl1-yAs キャップ層 | 1-5×1018 | 500-1000 | |
| i-InGaAs 吸収層 | uid | 1500-3000 | ||
| n+-InxAl1-xAs バッファ層 | 1-5×1018 | 1000-2000 | ||
| InP バッファ層 | 1-5×1018 | 200-1000 | ||
| InP 基板 | — | / | ||
サイズ、エピ構造、膜厚等については、ご要望に応じてカスタマイズ対応が可能です。
詳細仕様については、ご要求に応じて最適化可能です。
| 仕様 | サイズ | 2"、3"、4" | |
|---|---|---|---|
| エピタキシャル材料 | InP、InGaAs、InGaAsP、InAIAs | ||
| ドーピング | Si(N型) | ||
| 構造 ① | 層構成 | ドーピング濃度(cm3) | 厚み(nm) |
| InP | uid | 2500-4000 | |
| InP | 1-5×1017 | 200-1000 | |
| InGaAsP | uid | 10-500 | |
| InGaAs | uid | 1500-3000 | |
| InP バッファ層 | 1-5×1018 | 200-1000 | |
| InP 基板 | — | / | |
| 構造 ② | 層構成 | ドーピング濃度(cm3) | 厚み(nm) |
| InP | uid | 500-4000 | |
| InAlAs | 1-5×1017 | 200-1000 | |
| InAlAs | uid | 10-500 | |
| InGaAs | uid | 1500-3000 | |
| InAIAs | 1-5×1018 | 200-1000 | |
| InP バッファ層 | 1-5×1018 | 200-1000 | |
| InP 基板 | — | / | |
サイズ、エピ構造、膜厚等については、ご要望に応じてカスタマイズ対応が可能です。
詳細仕様については、ご要求に応じて最適化可能です。
| 仕様 | サイズ | 2"、3" | |
|---|---|---|---|
| エピタキシャル材料 | InAs、GaSb | ||
| ドーピング | Si(N型)/ Be(P型)/Te(N型) | ||
| 構造 ① | 層構成 | ドーピング濃度(cm3) | 厚み(nm) |
| n-InAs | 1-5×1018 | 10-100 | |
| n-InAs/GaSb | 1-5×1018 | 200-800 | |
| i-InAs/GaSb | uid | 1500-4000 | |
| p-InAs/GaSb | 1-5×1018 | 200-800 | |
| p-GaSb バッファ層 | 1-5×1018 | 200-1000 | |
| GaSb 基板 | — | / | |
| 構造 ② | 層構成 | ドーピング濃度(cm3) | 厚み(nm) |
| p-GaSb | 1-5×1018 | 500-1000 | |
| p-InAs/GaSb(LW) | 1-5×1018 | 200-800 | |
| i-InAs/GaSb(LW) | uid | 1500-4000 | |
| n-GaSb | 1-5×1018 | 200-800 | |
| i-InAs/GaSb(MW) | uid | 1500-4000 | |
| p-InAs/GaSb(MW) | 1-5×1018 | 200-800 | |
| p-GaSb バッファ層 | 1-5×1018 | 200-1000 | |
| GaSb 基板 | — | / | |
サイズ、エピ構造、膜厚等については、ご要望に応じてカスタマイズ対応が可能です。
詳細仕様については、ご要求に応じて最適化可能です。